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Anno: 2016
Parte della stazione di etichettatura KRONES X (LS X), USATAAnno: 2002
Stato utensile in esecuzione wafer Dimensione cialda 300 mm Film sottile a sezione favolosa Asset Description Producer SE mainframe e 3 camere Versione software B3.9_56 CIM SECS, GEM Processo BD i, BD i, BDIIx Configurazione hardware (favolosa): Produttore principale del sistema SE - 1 Handler System 2 robot FI e 1 robot MF - 3 Interfaccia di fabbrica FOUP - …Anno: 2014
Hitachi (semiconduttore) RS-6000 SEM - Revisione dei difetti (DR) Attualmente configurato per wafer da 300 mm Data MFG: 25-lug-14 DETTAGLI DELL'ATTREZZATURA: Modello: RS6000E con Opzioni Funzione iPQ A-1 Sistema principale RS6000E VR25 (Uso 300mmWafer, AC208V/60Hz) incluso: - 2 supporti per wafer (per 300 mm) - Funzione ADR (Auto Defect Review). - 3 tipi di sistema di acquisizione delle immagini - …Anno: 2000
Sega a cubetti DISCo DFD 641 Ricondizionato, venduto in buone condizioni di lavoroAnno: 1995
Canon fpa-1550m4w 1995 Dimensione cialda 6Anno: 2000
Hitachi Kokusai elettrico VR-120S 2000 Dimensione cialda 12Anno: 2005
Caratterizzazione dei wafer Attrezzature metrologiche Attualmente configurato per: 300 mm Asset HDD non incluso Caratterizzazione dei wafer WAFS001 FORMA/PLANARITÀ DEL WAFERSITE KLAT Stato: lo strumento è stato spento e spostato in una posizione di archiviazione in loco. Configurazione: Audit da verificare. Configurazione del sistema standard Planarità interferometrica a doppia faccia e misuratore di forma Modalità semi M49 Modalità di emulazione …