Macchina di metrologia IMS IMPACT 600 Ottimi affari

Anno: 2005

- Calibrazione regolare in un periodo di 2 anni - Servizio regolare nel periodo di 1 anno - In ottime condizioni per un dispositivo di 18 anni. - Ultima calibrazione 13.04.2022 Sistema di misura/software/hardware Testa della sonda motorizzata RENISHAW: PH10T/TP20 Software: Virtual DMIS versione 5.0 PC: Intel Pentium 4 RAM da 500 MB Disco rigido da 80 GB Windows XP …

Misura nanometrica del profiler ottico 3D con tecnologia confocale, interferometrica e di variazione della messa a fuoco Sensofar PLU-NEOX Ottimi affari

Anno: ~ 2012

Misura nanometrica del profiler ottico 3D con tecnologia confocale, interferometrica e di variazione della messa a fuoco SENSOFAR 3D PLU-NEOX con tavolino X-Y motorizzato include tavolo di isolamento Kinetic System Inc. D120010 Una soluzione QA/QC e R&S progettata per la velocità. Profilatura 3D al nanometro con 3 ottiche tecnologie e la capacità di misurare superfici lisce e lucenti. L'S Neox …

Levigatrice doppia a velocità variabile con testa a motore vettoriale BUEHLER BETA 49-5102-230

Anno: 2008

BUEHLER BETA - Lucidatrice per smerigliatrice a doppia velocità variabile con preparazione di campioni metallurgici a testa di potenza vettoriale La lucidatrice Buehler è adatta per la microscopia come la granulometria e altre analisi strutturali. IL la combinazione di una base a velocità variabile e una testa con impostazione del carico consente la lucidatura automatizzata di campioni metallurgici adatti alla …

Macchina di rivestimento filatura Laurell WS-650-23B

Anno:

Macchina di rivestimento filatura Il rivestimento a rotazione comporta l'erogazione accurata di un liquido, tipicamente fotoresist, su un substrato, tipicamente un wafer semiconduttore, quindi la rotazione per ottenere una pellicola uniforme e priva di difetti. L'originale e ormai famoso design dello spin coater Laurell impiega l'uso di un controllo della rotazione estremamente preciso abbinato a una camera di processo chiusa …

Macchina di metrologia Nikon Inexiv vma-2520

Anno: 2017

Il sistema di metrologia video CNC da banco iNEXIV VMA-2520 fornisce un campo di misura di 200 mm x 250 mm x 200 mm (X, Y, Z) insieme a ottiche ad ampio campo visivo. Il suo design compatto è perfetto quando lo spazio è prezioso. Questo sistema predisposto per la sonda tattile è ideale per un'ampia varietà di applicazioni industriali …

Macchina per rivestimento fine automatico Jeol JFC-1600

Anno:

Macchina per rivestimento fine automatico Questo dispositivo di rivestimento, costituito da un'unità principale e da una pompa, è destinato principalmente alla preparazione di provini per SEM osservazione. Rivestisce campioni biologici e altri campioni non conduttivi con metalli, in modo efficiente e in breve tempo. Caratteristiche:  Il catodo contiene un magnete permanente per creare un'efficiente scarica luminescente per lo sputtering. …

Macchina di metrologia International Metrology Systems Ltd. IMS Premier 10.10.8

Anno: 2010

Ottimo stato di funzionamento, acquistato nuovo per il laboratorio di un impianto di difesa. Un operatore ha lavorato tutto il tempo, sono stati effettuati controlli regolari. La macchina è iscritta nel registro di stato di tipo SI. La CMM è collegata, il controllo funzionale è possibile. C'è la documentazione tecnica. Il costo di una nuova macchina simile del produttore è …

Macchina di metrologia TEL Formula Nitride

Anno: 2004

Produttore TEL Modello Formula Nitride Anno 2004 FORMATO WAFER 12

Macchina di metrologia Gaertner L115C-8

Anno: 1995

Ellissometro Produttore GAERTNER Modello L115C-8 Anno 1995

Macchina di metrologia Hitachi S-4800

Anno: 2007

Macchina metrologica Produttore Hitachi Modello S-4800 SEM con EDX anno 2007

Macchina di metrologia Hitachi S-5000H

Anno: 1998

Macchina metrologica Produttore Hitachi Modello S-5000H Anno 1998

Macchina di metrologia Hitachi S-5000

Anno: 1995

Macchina metrologica Produttore Hitachi Modello S-5000 Anno 1995

Macchina di metrologia Hitachi WA200

Anno:

Produttore Hitachi Modello WA200 DIMENSIONE WAFER 8" Interfaccia SMIFF Microscopio con sonda a scansione ad ampia area

Macchina di metrologia Hitachi -

Anno:

Macchina metrologica Produttore Hitachi La macchina si trova in Irlanda queste informazioni extra sono standard per questo modello. Si prega di ricontrollare sempre i dettagli durante una visita La macchina Hitachi Metrology è uno strumento elettronico all'avanguardia progettato per applicazioni di misurazione e ispezione di precisione. Rinomato per la sua precisione e affidabilità, questo modello specifico è ampiamente utilizzato in …

Macchina di metrologia Veeco D9000

Anno:

Produttore Veeco Modello D9000 Veeco D9000 favoloso Anno 2001 Interfaccia SMIFF Microscopio con sonda a scansione completamente automatica DIMENSIONE WAFER 8"

Macchina di metrologia SMC INR-497-001

Anno:

SMC INR-497-001 Thermo Chiller a doppio canale Usato, testato funzionante Venduto con 90 giorni di garanzia

Macchina di metrologia ADVANTEST T5375

Anno:

Macchina metrologica Produttore ADVANTEST Modello T5375 Condizione Usato